72DL PLUS測厚儀提供標(biāo)準(zhǔn)頻率和高頻率兩種型號。高頻率型號可以測量超薄材料，包括多層漆料、塑料、金屬和涂層，其多層測量軟件可以同時顯示最多六個獨(dú)立層的厚度。所有72DL PLUS型號都具有快速、準(zhǔn)確測量厚度的功能。
·數(shù)字濾波器可實(shí)現(xiàn)出色的信噪比，以準(zhǔn)確地測量噪聲材料（如玻璃纖維）
·高分辨率觸摸屏易于使用，可從不同視角觀看
·PC Interface Application（PC機(jī)接口應(yīng)用程序）集成了您的工作流程、檢測管理、報警和數(shù)據(jù)分析...

DSX1000 數(shù)碼顯微鏡將易用性和高級功能相結(jié)合，能夠優(yōu)化您的檢查工作流程。有多種可輕松更換的鏡頭供您選擇；輕松一按即可在六種不同觀察方法間切換；快速從宏觀視圖變?yōu)槲⒂^視圖；使用遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行準(zhǔn)確測量。...

OLS5100具有出色精度和光學(xué)性能的LEXT™OLS5100激光掃描顯微鏡配備了讓系統(tǒng)更加易于使用的智能工具。其能夠快速高效完成亞微米級形貌和表面粗糙度的精確測量任務(wù)，既簡化了工作流程又能讓您獲得可信賴的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。...

SZ61/SZ51 SZ51和SZ61顯微鏡配有內(nèi)置防靜電保護(hù)裝置，可生成具有優(yōu)異景深、清晰、細(xì)致、顏色逼真的圖像。其可靠、高性能的光學(xué)部件是保證精確觀測結(jié)果的核心。 小型設(shè)計(jì)和卓越的光學(xué)性能并存 實(shí)現(xiàn)了小型機(jī)體的格里諾（Greenough）光學(xué)系統(tǒng) 格里諾光學(xué)系統(tǒng)光...

SZX10 SZX10是可再現(xiàn)樣品自然顏色和形貌的應(yīng)用領(lǐng)域較為廣泛的高級系統(tǒng)體視顯微鏡。寬范圍的變倍比（10倍），工作距離81mm，開口數(shù)0.1（采用1倍物鏡時）。可提供高光學(xué)性能和舒適的操作環(huán)境。 可靠性和重復(fù)性 可以快速檢查的操作部 帶點(diǎn)擊停止裝置的變焦旋鈕...

SZX7 SZX7體視顯微鏡，價格適中、操作簡便、觀察舒適，并配有7:1變焦率功能和內(nèi)置防靜電保護(hù)裝置，采用了先進(jìn)的伽利略光學(xué)系統(tǒng)，可生成優(yōu)異的高畫質(zhì)圖像。 優(yōu)異的可視性和豐富的擴(kuò)展性能 采用了系統(tǒng)擴(kuò)展性能優(yōu)越的伽利略光學(xué)系統(tǒng) 伽利略光學(xué)系統(tǒng)光路圖 采用...

SZX16 SZX16通用顯微鏡是根據(jù)檢測應(yīng)用的需求設(shè)計(jì)的，0.7x - 11.5x，變倍比可達(dá)16.4倍，分辨率可達(dá)900 LP/mm。能夠滿足廣泛的研究需求。 卓越光學(xué)性能帶來的鮮明觀察影像 16.4倍超大變焦比 0.7倍～11.5倍的變焦范圍，不需要交換物鏡就能一次性觀察樣品的整體...

STM7顯微鏡具有優(yōu)良的多用途性，能夠以亞微米精度實(shí)現(xiàn)對零部件和電氣組件的高性能三軸測量。無論待測樣品是大的還是小的，測量內(nèi)容是簡單的還是復(fù)雜的，測量人員是新手還是專家，奧林巴斯STM7系列就是能滿足您需求、為您量身打造的測量顯微鏡產(chǎn)品。 STM7 通過...

適應(yīng)范圍廣、搭配靈活 對應(yīng)多種尺寸組合 我們推出了200 mm專用型、200 mm/150 mm兼用型和150 mm型（對應(yīng)小于150 mm的晶圓）的3種型號。除此以外，您還可以根據(jù)檢查模式，選用微觀檢查專用型號L型或微觀宏觀檢查兼用型號LMB型。 晶圓尺寸厚度對應(yīng)表 薄片檢查...

讓您的大尺寸樣品檢測流程更加順暢 MX63和MX63L顯微鏡系統(tǒng)特別適合尺寸最大300毫米的晶圓、平板顯示器、電路板、以及其他大尺寸樣品的高質(zhì)量檢測。其采用的模塊化設(shè)計(jì)可讓您根據(jù)需要選擇組件，獲得根據(jù)應(yīng)用定制的系統(tǒng)。 這兩款符合人體工學(xué)設(shè)計(jì)且人性化的顯...

AL120-12晶圓搬送機(jī)對應(yīng)可使用FOUP（裝載口）和FOSB，適用于低成本的后期檢查。安全且符合人體工程學(xué)的設(shè)計(jì)確保了操作人員在搬送晶圓時（包括薄晶圓和變形晶圓）的效率和安全。 人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)，操作方便 可以自由設(shè)置的檢查模式，在設(shè)計(jì)上考慮了后道工程中...

MX-IR / BX-IR MX-IR/BX-IR是像透過玻璃似的可透視紅外線顯微鏡。適用于封裝芯片、晶圓級CSP/SIP的非破壞檢查。 非破壞觀察半導(dǎo)體器件內(nèi)部 隨著不斷發(fā)展的電子設(shè)備小型化、超薄化的需求，半導(dǎo)體器件的封裝技術(shù)也高速進(jìn)化。使用近紅外線顯微鏡，可以對SiP（Sy...