72DL PLUS測厚儀提供標準頻率和高頻率兩種型號。高頻率型號可以測量超薄材料，包括多層漆料、塑料、金屬和涂層，其多層測量軟件可以同時顯示最多六個獨立層的厚度。所有72DL PLUS型號都具有快速、準確測量厚度的功能。
·數字濾波器可實現出色的信噪比，以準確地測量噪聲材料（如玻璃纖維）
·高分辨率觸摸屏易于使用，可從不同視角觀看
·PC Interface Application（PC機接口應用程序）集成了您的工作流程、檢測管理、報警和數據分析...

DSX1000 數碼顯微鏡將易用性和高級功能相結合，能夠優化您的檢查工作流程。有多種可輕松更換的鏡頭供您選擇；輕松一按即可在六種不同觀察方法間切換；快速從宏觀視圖變為微觀視圖；使用遠心光學系統進行準確測量。...

OLS5100具有出色精度和光學性能的LEXT™OLS5100激光掃描顯微鏡配備了讓系統更加易于使用的智能工具。其能夠快速高效完成亞微米級形貌和表面粗糙度的精確測量任務，既簡化了工作流程又能讓您獲得可信賴的高質量數據。...

SZ61/SZ51 SZ51和SZ61顯微鏡配有內置防靜電保護裝置，可生成具有優異景深、清晰、細致、顏色逼真的圖像。其可靠、高性能的光學部件是保證精確觀測結果的核心。 小型設計和卓越的光學性能并存 實現了小型機體的格里諾（Greenough）光學系統 格里諾光學系統光...

SZX10 SZX10是可再現樣品自然顏色和形貌的應用領域較為廣泛的高級系統體視顯微鏡。寬范圍的變倍比（10倍），工作距離81mm，開口數0.1（采用1倍物鏡時）。可提供高光學性能和舒適的操作環境。 可靠性和重復性 可以快速檢查的操作部 帶點擊停止裝置的變焦旋鈕...

SZX7 SZX7體視顯微鏡，價格適中、操作簡便、觀察舒適，并配有7:1變焦率功能和內置防靜電保護裝置，采用了先進的伽利略光學系統，可生成優異的高畫質圖像。 優異的可視性和豐富的擴展性能 采用了系統擴展性能優越的伽利略光學系統 伽利略光學系統光路圖 采用...

SZX16 SZX16通用顯微鏡是根據檢測應用的需求設計的，0.7x - 11.5x，變倍比可達16.4倍，分辨率可達900 LP/mm。能夠滿足廣泛的研究需求。 卓越光學性能帶來的鮮明觀察影像 16.4倍超大變焦比 0.7倍～11.5倍的變焦范圍，不需要交換物鏡就能一次性觀察樣品的整體...

STM7顯微鏡具有優良的多用途性，能夠以亞微米精度實現對零部件和電氣組件的高性能三軸測量。無論待測樣品是大的還是小的，測量內容是簡單的還是復雜的，測量人員是新手還是專家，奧林巴斯STM7系列就是能滿足您需求、為您量身打造的測量顯微鏡產品。 STM7 通過...

適應范圍廣、搭配靈活 對應多種尺寸組合 我們推出了200 mm專用型、200 mm/150 mm兼用型和150 mm型（對應小于150 mm的晶圓）的3種型號。除此以外，您還可以根據檢查模式，選用微觀檢查專用型號L型或微觀宏觀檢查兼用型號LMB型。 晶圓尺寸厚度對應表 薄片檢查...

讓您的大尺寸樣品檢測流程更加順暢 MX63和MX63L顯微鏡系統特別適合尺寸最大300毫米的晶圓、平板顯示器、電路板、以及其他大尺寸樣品的高質量檢測。其采用的模塊化設計可讓您根據需要選擇組件，獲得根據應用定制的系統。 這兩款符合人體工學設計且人性化的顯...

AL120-12晶圓搬送機對應可使用FOUP（裝載口）和FOSB，適用于低成本的后期檢查。安全且符合人體工程學的設計確保了操作人員在搬送晶圓時（包括薄晶圓和變形晶圓）的效率和安全。 人機工程學設計，操作方便 可以自由設置的檢查模式，在設計上考慮了后道工程中...

MX-IR / BX-IR MX-IR/BX-IR是像透過玻璃似的可透視紅外線顯微鏡。適用于封裝芯片、晶圓級CSP/SIP的非破壞檢查。 非破壞觀察半導體器件內部 隨著不斷發展的電子設備小型化、超薄化的需求，半導體器件的封裝技術也高速進化。使用近紅外線顯微鏡，可以對SiP（Sy...